支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準(zhǔn)試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1 電力瓷套、瓷支柱絕緣子參考試塊 對比試塊JYZ-G 爬波探頭JYZ-3
| 序號 | 飛泰品牌 探頭分類 | 探頭晶片尺寸mm ×mm | 探頭弧面對應(yīng)直徑（mm） | 適用工件外徑 | 頻率 | 適合間距（mm） | 單價（元） |
| 1 | JYZ-1 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞15 | 致電 |
| 2 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞15 | |
| 3 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞15 | |
| 4 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞15 | |
| 5 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞15 | |
| 6 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞15 | |
| 7 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞15 | |
| 8 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ240 | ＞Φ220 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 9 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ260 | ＞Φ240 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 10 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ280 | ＞Φ260 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 11 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ300 | ＞Φ280 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 12 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ400 | ＞Φ300 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 13 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ500 | ＞Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 14 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ600 | ＞Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 15 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | 平面 | ＞Φ500 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 16 | JYZ-2爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 17 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 18 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞12 | |
| 19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞12 | |
| 19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞12 | |
| 20 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞12 | |
| 21 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞12 | |
| 22 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | ＞Φ220 | 2.5P | ＞12 | |
| 23 | JYZ-3爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 24 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 25 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞12 | |
| 26 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞12 | |
| 27 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞12 | |
| 28 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞12 | |
| 29 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞12 | |
| 30 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | 平 面 | ＞Φ220 | 2.5P | ＞12 | |
| 31 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ120 6° | ＞Φ100 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 32 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ140 6° | ＞Φ120 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 33 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ160 6° | ＞Φ140 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 34 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 6° | ＞Φ160 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 35 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ200 6° | ＞Φ180 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 36 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面6° | ＞Φ200 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 37 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 8° | ＞100 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 38 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面8° | ＞Φ200 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 39 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 40 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 41 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 42 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 43 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ240 | ＞Φ220 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 44 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ260 | ＞Φ240 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 45 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ280 | ＞Φ260 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 46 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ300 | ＞Φ280 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 47 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ400 | ＞Φ300 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 48 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ500 | ＞Φ400 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 49 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ600 | ＞Φ500 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 50 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | ＞600 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 51 | 縱波直探頭 | Φ10 | 平 面 | 5P | 聲速測定用 | ||
| 序號 | 試塊名稱 | 型 號 | 規(guī) 格 | 使用范圍 | |||
| 1 | 校準(zhǔn)試塊 | JYZ-BXⅠ | 360°旋轉(zhuǎn)/帶支架 | 支柱絕緣子專用 | |||
| 2 | 校準(zhǔn)試塊 | JYZ-BXⅡ | 瓷套專用 | ||||
| 3 | 瓷柱對比試塊 | JYZ-G | Φ120瓷柱聲速≥6300m/s | 參考對比 | |||
| 1 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ≤Φ100-Φ110 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 2 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ110-Φ120 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 3 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ120-Φ130 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 4 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ130-Φ140 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 5 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ140-Φ150 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 6 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ150-Φ160 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 7 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ160-Φ170 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 8 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ140-Φ160 | 塊 | 內(nèi)部缺陷 | |||
| 1 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ160-Φ200 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 2 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ200-Φ300 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 3 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ300-Φ400 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 4 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ400-Φ500 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 5 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ500-Φ600 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 1 | 探頭連接線 | Q9-C6、C9-C6、C5-C6 | 根 | 或根據(jù)儀器選配 | |||
IP65防護(hù)等級，全防水、防油、防塵設(shè)計
一、產(chǎn)品概述
FUT880瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀是飛泰公司專注多年精心研制的產(chǎn)品，該產(chǎn)品設(shè)計獨(dú)特、制造精良、操作便捷、功能強(qiáng)勁，集諸多優(yōu)勢于一身，自問世以來一直倍受用戶親睞，它能夠快速便捷、無損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行支柱絕緣子，瓷套內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測、定位、評估和診斷。采用全數(shù)字TFT 640×480真彩色液晶顯示屏，可根據(jù)環(huán)境選擇操作界面風(fēng)格，液晶亮度可調(diào)節(jié)，界面設(shè)計人性化、波形顯示細(xì)膩；可全屏清晰發(fā)現(xiàn)缺陷；單手可把持操作，曲線制作、探頭校準(zhǔn)等常規(guī)操作均可自動完成；核心處理器CPU主頻400M，能快速完成復(fù)雜運(yùn)算，實(shí)現(xiàn)智能缺陷分析；低功耗設(shè)計配備大容量高性能鋰離子電池模塊可連續(xù)工作10小時以上；支持多語言版本。防水、防油、防塵可達(dá)到IP65防護(hù)等級。
二、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
DL/T303-2014《電網(wǎng)在役支柱瓷絕緣子及瓷套 超聲波檢測》
GB/T2900.8 電工術(shù)語 絕緣子
GB/T12604.1 無損檢測術(shù)語 超聲檢測 J
B/T9214 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法。
JB/T10061 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
JB/T10062 超聲探傷用探頭性能測試方法
JB/T 10063 超聲探傷用1號標(biāo)準(zhǔn)試塊 技術(shù)條件
DL/T 675 電力工業(yè)無損檢測人員資格考核規(guī)則
三、絕緣子超聲波探傷儀探頭的弧面選擇
探頭移動時要求保持與檢測面的良好吻合，應(yīng)選用與試件曲面相匹配的探頭。一般可在支柱瓷絕緣 子及瓷套直徑變化 20mm 范圍內(nèi)選用一種規(guī)格弧度的探頭，但僅允許曲率半徑大的探頭探測曲面半徑小 一檔的試件（一檔為 20mm）。探頭的弧面直徑分為：Φ100mm、Φ120mm、Φ140mm、Φ160mm、Φ180mm、 Φ200mm、Φ220mm、Φ240mm、Φ260mm、Φ280mm、Φ300mm、Φ400mm、Φ500mm、Φ600mm 以及平面 15 種規(guī)格。
四、FUT880瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀數(shù)據(jù)處理軟件DataPro
該軟件是絕緣子超聲波探傷儀的通訊軟件，軟件運(yùn)行在MS Windows系統(tǒng)下，可以通過USB通訊接口與儀器連接，讀取儀器內(nèi)存儲的波形和參數(shù)，并給出直觀的顯示圖形；可以將波形和數(shù)據(jù)存入數(shù)據(jù)庫，并可隨時調(diào)出或刪除數(shù)據(jù)庫中的保存的測量數(shù)據(jù)；可以將數(shù)據(jù)輸出與計算機(jī)相連的打印機(jī)。軟件的主界面如右圖所示：
五、技術(shù)參數(shù)
◆技術(shù)參數(shù)優(yōu)勢
檢測范圍：0~20000mm
工作頻率：0.2~20MHz（可根據(jù)探頭頻率全自動匹配，無需手動設(shè)置）
聲速范圍：300~15000m/s
動態(tài)范圍：≥36dB
垂直線性誤差：≤2.5%
水平線性誤差：≤0.1%
分 辨 力：>40dB(5P14)
靈敏度余量：>65dB(深200mmФ2平底孔)
數(shù)字抑制：0~80%，不影響線性與增益
電噪聲電平：≤8%
探頭類型：直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭
閘 門：進(jìn)波門、失波門；單閘門、雙閘門讀數(shù)；峰值觸發(fā)、邊沿觸發(fā)。
報 警：蜂鳴報警，LED燈報警
電 源：直流（DC）9V
待機(jī)時間：>10小時
外型尺寸：285mm×225mm×72mm
環(huán)境溫度：-10~50℃
相對濕度：20~95%RH
注：以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測得。
支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準(zhǔn)試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1 電力瓷套、瓷支柱絕緣子參考試塊 對比試塊JYZ-G 爬波探頭JYZ-3
人員
超聲波檢驗(yàn)人員須經(jīng)過本導(dǎo)則附錄A所列檢驗(yàn)工藝的培訓(xùn)并經(jīng)考核合格后方可執(zhí)行檢驗(yàn)工作和檢驗(yàn)報告的簽發(fā)。
超聲波檢驗(yàn)人員須熟悉并掌握本導(dǎo)則的各項(xiàng)規(guī)定，并按規(guī)定的檢驗(yàn)工藝進(jìn)行操作。
安全及工作環(huán)境
超聲波檢驗(yàn)工作須遵守《國家電網(wǎng)公司電力安全工作規(guī)程（變電站和發(fā)電廠電氣部分）》的有關(guān)規(guī)定，當(dāng)現(xiàn)場工作環(huán)境不具備檢驗(yàn)條件時，檢驗(yàn)人員應(yīng)停止工作，待環(huán)境條件符合要求后再行工作。
數(shù)字式A型脈沖反射式超聲波探傷儀器的要求
儀器的性能指標(biāo)應(yīng)符合JB/T 10061的規(guī)定。
儀器的性能測試方法應(yīng)符合JB/T 9214的規(guī)定，測試周期為1年。
儀器的工作頻率范圍至少為1～6 MHz。
儀器的實(shí)時實(shí)采樣頻率不小于100 MHz。
儀器可記錄波形應(yīng)≥500幅。
儀器顯示刷新率應(yīng)≥60HZ。
儀器可測聲速范圍：100～15000m/s。
儀器須配有標(biāo)準(zhǔn)的通信接口，可通過界面程序與計算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)和波型交換，也可直接與打印機(jī)相連。
儀器所配對比試塊應(yīng)符合本導(dǎo)則附錄B所列技術(shù)條件要求。
數(shù)字式A型脈沖反射式超聲波探傷儀所配用探頭的要求
探頭應(yīng)按JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測試，測試周期為1年。
探頭對準(zhǔn)對比試塊上被測棱邊,當(dāng)反射波幅*大時，探頭中心線與被測棱邊的夾角應(yīng)在90o±2o的范圍內(nèi)。
探頭主波束在垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰或多峰。
探頭的中心頻率允許偏差為±0.5MHz。
縱波直探頭*大穿透能力： 400mm。
縱波斜探頭缺陷*大檢出能力：可檢出被測瓷支柱絕緣子及瓷套內(nèi)部深度≤250mm內(nèi)的Φ1mm孔。
爬波探頭缺陷*大檢出能力：距瓷支柱絕緣子及瓷套裂紋40mm時,能檢出深1mm的裂紋
支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準(zhǔn)試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1
檢驗(yàn)方法
聲速測定
對不同批次、不同尺寸的瓷支柱絕緣子，需按不少于1%的比例抽檢作聲速測定，以確定其強(qiáng)度范圍。
瓷支柱絕緣子的聲速測定應(yīng)采用縱波直探頭，采用卡尺量出被測瓷支柱絕緣子的直徑并輸入儀器，調(diào)整儀器找到兩次回波，并將回波限在閘門范圍內(nèi)，測試出被測瓷件聲速值。一般高強(qiáng)瓷的聲速＞6500m/s，（6370-65000m/s）。
瓷套的聲速測定暫不作要求。
內(nèi)部缺陷檢測
內(nèi)部缺陷（指瓷件內(nèi)部存在的點(diǎn)狀、多個或從狀、裂紋等缺陷）應(yīng)采用縱波斜入射方法進(jìn)行檢測。
選擇探頭：在探頭移動范圍允許的情況下，盡量選擇入射角較大的探頭，以提高表面缺陷檢出能力。一般可在直徑變化20mm的范圍內(nèi)確定一種弧度規(guī)格探頭,直徑大的探頭可用于探測直徑小一檔的瓷件。瓷支柱絕緣子及瓷套直徑大于Φ240mm時可以采用平面探頭。
調(diào)整顯示比例：以JYZ-BX試塊上與瓷支柱絕緣子直徑及瓷套壁厚相近處的Φ1mm橫通孔作為參照，調(diào)整波形顯示比例（一般儀器A通道預(yù)置顯示比例適用于直徑200mm的瓷件。比如瓷支柱絕緣子直徑為140 mm，屏幕上底波的橫向顯示距離應(yīng)為距始波70%屏幕寬度）。
調(diào)整靈敏度：以JYZ-BX試塊上深40mm，Φ1mm橫通孔為參照，采用按自動增益鍵或手動調(diào)整增益的方式，使該橫通孔的*強(qiáng)反射波高為屏幕縱向顯示刻度的80%（即80％波高）支柱絕緣子超聲波JYZ-BXI校準(zhǔn)試塊 JYZ-2爬波探頭JYZ-1 電力瓷套、瓷支柱絕緣子參考試塊 對比試塊JYZ-G 爬波探頭JYZ-3
