飛泰公司生產(chǎn)支柱瓷絕緣子、瓷套數(shù)字超聲波探傷儀 實力有保證
飛泰公司生產(chǎn)支柱瓷絕緣子、瓷套數(shù)字超聲波探傷儀 實力有保證
IP65防護(hù)等級，全防水、防油、防塵設(shè)計
一、產(chǎn)品概述
FUT880瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀是飛泰公司專注多年精心研制的產(chǎn)品，該產(chǎn)品設(shè)計獨特、制造精良、操作便捷、功能強勁，集諸多優(yōu)勢于一身，自問世以來一直倍受用戶親睞，它能夠快速便捷、無損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行支柱絕緣子，瓷套內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測、定位、評估和診斷。采用全數(shù)字TFT 640×480真彩色液晶顯示屏，可根據(jù)環(huán)境選擇操作界面風(fēng)格，液晶亮度可調(diào)節(jié)，界面設(shè)計人性化、波形顯示細(xì)膩；可全屏清晰發(fā)現(xiàn)缺陷；單手可把持操作，曲線制作、探頭校準(zhǔn)等常規(guī)操作均可自動完成；核心處理器CPU主頻400M，能快速完成復(fù)雜運算，實現(xiàn)智能缺陷分析；低功耗設(shè)計配備大容量高性能鋰離子電池模塊可連續(xù)工作10小時以上；支持多語言版本。防水、防油、防塵可達(dá)到IP65防護(hù)等級。
二、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
DL/T303-2014《電網(wǎng)在役支柱瓷絕緣子及瓷套 超聲波檢測》
GB/T2900.8 電工術(shù)語 絕緣子
GB/T12604.1 無損檢測術(shù)語 超聲檢測 J
B/T9214 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法。
JB/T10061 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
JB/T10062 超聲探傷用探頭性能測試方法
JB/T 10063 超聲探傷用1號標(biāo)準(zhǔn)試塊 技術(shù)條件
DL/T 675 電力工業(yè)無損檢測人員資格考核規(guī)則
三、絕緣子超聲波探傷儀探頭的弧面選擇
探頭移動時要求保持與檢測面的良好吻合，應(yīng)選用與試件曲面相匹配的探頭。一般可在支柱瓷絕緣 子及瓷套直徑變化 20mm 范圍內(nèi)選用一種規(guī)格弧度的探頭，但僅允許曲率半徑大的探頭探測曲面半徑小 一檔的試件（一檔為 20mm）。探頭的弧面直徑分為：Φ100mm、Φ120mm、Φ140mm、Φ160mm、Φ180mm、 Φ200mm、Φ220mm、Φ240mm、Φ260mm、Φ280mm、Φ300mm、Φ400mm、Φ500mm、Φ600mm 以及平面 15 種規(guī)格。
四、FUT880瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀數(shù)據(jù)處理軟件DataPro
該軟件是絕緣子超聲波探傷儀的通訊軟件，軟件運行在MS Windows系統(tǒng)下，可以通過USB通訊接口與儀器連接，讀取儀器內(nèi)存儲的波形和參數(shù)，并給出直觀的顯示圖形；可以將波形和數(shù)據(jù)存入數(shù)據(jù)庫，并可隨時調(diào)出或刪除數(shù)據(jù)庫中的保存的測量數(shù)據(jù)；可以將數(shù)據(jù)輸出與計算機相連的打印機。軟件的主界面如右圖所示：
五、技術(shù)參數(shù)
◆技術(shù)參數(shù)優(yōu)勢
檢測范圍：0~20000mm
工作頻率：0.2~20MHz（可根據(jù)探頭頻率全自動匹配，無需手動設(shè)置）
聲速范圍：300~15000m/s
動態(tài)范圍：≥36dB
垂直線性誤差：≤2.5%
水平線性誤差：≤0.1%
分 辨 力：>40dB(5P14)
靈敏度余量：>65dB(深200mmФ2平底孔)
數(shù)字抑制：0~80%，不影響線性與增益
電噪聲電平：≤8%
探頭類型：直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭
閘 門：進(jìn)波門、失波門；單閘門、雙閘門讀數(shù)；峰值觸發(fā)、邊沿觸發(fā)。
報 警：蜂鳴報警，LED燈報警
電 源：直流（DC）9V
待機時間：>10小時
外型尺寸：285mm×225mm×72mm
環(huán)境溫度：-10~50℃
相對濕度：20~95%RH
注：以上指標(biāo)是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測得。
◆ 數(shù)據(jù)存儲
儀器內(nèi)置海量存儲器，將數(shù)據(jù)和文件不會因儀器斷電丟失，存儲內(nèi)容包括通道參數(shù)、波形圖片和錄像文件。支持1000組探傷參數(shù)通道，可預(yù)先調(diào)校好各類探頭和儀器的組合參數(shù)，自由設(shè)置各行業(yè)探傷標(biāo)準(zhǔn)；可存儲10000幅探傷回波信號及參數(shù)，實現(xiàn)存儲、讀出及通過USB接口傳輸
◆錄像功能
儀器支持將探傷的過程記錄下來存成錄像文件，保存到內(nèi)置存儲卡中。錄像文件可以通過儀器回放，也可以上載到電腦通過專用軟件進(jìn)行回放。大支持100個錄像文件，錄像總時長約15小時,將探傷的過程錄像并回放，為學(xué)習(xí)探傷提供了很大方便，也便于保存探傷過程日后分析。
DAC/AVG：曲線自動生成，取樣點不受限制，并可進(jìn)行補償與修正。曲線隨增益自動浮動、隨聲程自動擴(kuò)展、隨延時自動移動。能顯示任意孔徑的AVG曲線。
門內(nèi)展寬：放大回波細(xì)節(jié)，便于回波分析
連續(xù)記錄：實時記錄波形，存儲、回放
波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析
回波編碼：以不同顏色顯示1~6次回波顯示區(qū)，便于判斷缺陷位置
B 型掃描：實時掃查、橫截面顯示，可顯示工件缺陷形狀，使探測結(jié)果更直觀。
高容量專用鋰電池模塊，在線充電，方便探傷人員使用。
超聲波探傷儀
采用A型脈沖反射式數(shù)字超聲波探傷儀。超聲波探傷儀的工作頻率范圍至少為1MHZ～10MHZ，應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%，實時采樣頻率不小于100MHZ，其余性能指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。
瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀掃查記錄采用A掃描或B掃描的形式顯示。
瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀應(yīng)有足夠的存儲能力并帶有通信接口，可存儲預(yù)先設(shè)定的儀器參數(shù)和曲線，可通過界面程序與計算機進(jìn)行數(shù)據(jù)和波形交換。
瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀應(yīng)具有產(chǎn)品合格證或合格的證明文件。
超聲波探頭
超聲波探頭性能應(yīng)按JB/T10062進(jìn)行測定。
探頭聲速軸線水平偏離角應(yīng)不大于2°，探頭主波束在垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰或多峰。
探頭的中心頻率允許偏差應(yīng)為±0.5MHz。
探傷儀和探頭組合的系統(tǒng)性能
探傷儀和探頭的組合系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測試。
在達(dá)到被探工件*大檢測聲程處，其有效探傷靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。
探傷儀和探頭的組合分辨率：小角度縱波斜探頭的遠(yuǎn)場分辨率不小于30dB；爬波探頭的分辨力不小于6dB。
探傷儀和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差應(yīng)在±10％之間。
試塊
校準(zhǔn)試塊
校準(zhǔn)試塊是指本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的用于探傷儀系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊，用與瓷聲速相近的鋁合金材料加工制成，試塊的形狀和尺寸見附錄A。
校準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)的要求，并有出廠計量合格證書。
校準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T 10063的規(guī)定。
參考試塊
參考試塊是指本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的用于檢測時比對試驗的試塊，用與被檢支柱瓷絕緣子外形尺寸相近、材質(zhì)相同及聲速接近的材料制成。
檢測一般方法
檢測準(zhǔn)備
檢測前應(yīng)了解設(shè)備的名稱、支柱瓷絕緣子及瓷套的外形結(jié)構(gòu)型式、尺寸、材質(zhì)等；查閱制造廠出廠和安裝時有關(guān)質(zhì)量資料；查看被檢支柱瓷絕緣子及瓷套上的產(chǎn)品標(biāo)識，做好不易去除的性編號標(biāo)識等。
耦合劑應(yīng)具有良好的透聲性能和潤濕能力，且對工件無害，對工藝無影響，易清除?？蛇x擇甘油、機油或水質(zhì)漿糊等作為耦合劑。
確定檢測區(qū)域。支柱瓷絕緣子及瓷套檢測區(qū)域是上、下瓷件端頭與法蘭膠裝整個區(qū)域，重要是法蘭口內(nèi)外3mm與瓷體相交區(qū)域。
七、飛泰FUT880 電力瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀配置情況
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 可選配置 | |||||
| 序號 | 名稱 | 數(shù)量 | 序號 | 名稱 | 數(shù)量 | |
| 1 | FUT880儀器主機 | 1臺 | 1 | 校準(zhǔn)試塊 JYZ-BXⅠ | 2 | |
| 2 | 專用爬行探頭 | 1只 | 2 | 探傷儀主機保護(hù)套 | 1 | |
| 3 | 專用小角度探頭 | 1只 | 3 | 筆記本電腦 | 1 | |
| 4 | 探頭連接線纜 | 1條 | 4 | 雙晶橫波探頭 | 1 | |
| 5 | 電池模塊 | 1只 | 5 | 絕緣子模擬試塊 | １ | |
| 6 | 電源適配器（充電器） | 2只 | ||||
| 7 | 數(shù)據(jù)處理軟件光盤 | 1張 | ||||
| 8 | USB通訊線纜 | 1條 | ||||
| 9 | 儀器箱 | 1只 | ||||
石家莊飛泰檢測儀器有限公司飛泰FUT880 電力瓷套、支柱絕緣子超聲波探傷儀 超聲波探頭及試塊報價表
| 序號 | 飛泰品牌 探頭分類 | 探頭晶片尺寸mm ×mm | 探頭弧面對應(yīng)直徑（mm） | 適用工件外徑 | 頻率 | 適合間距（mm） | 單價（元） |
| 1 | JYZ-1爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞15 | 致電 |
| 2 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞15 | |
| 3 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞15 | |
| 4 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞15 | |
| 5 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞15 | |
| 6 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞15 | |
| 7 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞15 | |
| 8 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ240 | ＞Φ220 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 9 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ260 | ＞Φ240 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 10 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ280 | ＞Φ260 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 11 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ300 | ＞Φ280 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 12 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ400 | ＞Φ300 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 13 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ500 | ＞Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 14 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ600 | ＞Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 15 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | 平面 | ＞Φ500 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
| 16 | JYZ-2爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 17 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 18 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞12 | |
| 19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞12 | |
| 19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞12 | |
| 20 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞12 | |
| 21 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞12 | |
| 22 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | ＞Φ220 | 2.5P | ＞12 | |
| 23 | JYZ-3爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ100 | ＜Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 24 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ120 | ＞Φ100 | 2.5P | ＞12 | |
| 25 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ140 | ＞Φ120 | 2.5P | ＞12 | |
| 26 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 2.5P | ＞12 | |
| 27 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 2.5P | ＞12 | |
| 28 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 2.5P | ＞12 | |
| 29 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 2.5P | ＞12 | |
| 30 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | 平 面 | ＞Φ220 | 2.5P | ＞12 | |
| 31 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ120 6° | ＞Φ100 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 32 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ140 6° | ＞Φ120 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 33 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ160 6° | ＞Φ140 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 34 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 6° | ＞Φ160 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 35 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ200 6° | ＞Φ180 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 36 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面6° | ＞Φ200 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 37 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 8° | ＞100 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 38 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面8° | ＞Φ200 | 5P | ＞12內(nèi)部缺陷專用 | |
| 39 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | ＞Φ140 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 40 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | ＞Φ160 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 41 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | ＞Φ180 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 42 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | ＞Φ200 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 43 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ240 | ＞Φ220 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 44 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ260 | ＞Φ240 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 45 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ280 | ＞Φ260 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 46 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ300 | ＞Φ280 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 47 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ400 | ＞Φ300 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 48 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ500 | ＞Φ400 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 49 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ600 | ＞Φ500 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 50 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | ＞600 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
| 51 | 縱波直探頭 | Φ10 | 平 面 | 5P | 聲速測定用 | ||
| 序號 | 試塊名稱 | 型 號 | 規(guī) 格 | 使用范圍 | |||
| 1 | 校準(zhǔn)試塊 | JYZ-BXⅠ | 360°旋轉(zhuǎn)/帶支架 | 支柱絕緣子專用 | |||
| 2 | 校準(zhǔn)試塊 | JYZ-BXⅡ | 瓷套專用 | ||||
| 3 | 瓷柱對比試塊 | JYZ-G | Φ120瓷柱聲速≥6300m/s | 參考對比 | |||
| 1 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ≤Φ100-Φ110 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 2 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ110-Φ120 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 3 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ120-Φ130 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 4 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ130-Φ140 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 5 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ140-Φ150 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 6 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ150-Φ160 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 7 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ160-Φ170 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | |||
| 8 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ＞Φ140-Φ160 | 塊 | 內(nèi)部缺陷 | |||
| 1 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ160-Φ200 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 2 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ200-Φ300 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 3 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ300-Φ400 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 4 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ400-Φ500 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 5 | 瓷套參考試塊 | ＞Φ500-Φ600 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | |||
| 1 | 探頭連接線 | Q9-C6、C9-C6、C5-C6 | 根 | 或根據(jù)儀器選配 | |||
飛泰公司生產(chǎn)支柱瓷絕緣子、瓷套數(shù)字超聲波探傷儀 實力有保證
